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產品中心熱電電磁測試儀LSR-塞貝克/電阻測試儀LSR-1 (LSR L32)塞貝克系數/電阻測試儀
產品簡介：林賽斯LSR-1塞貝克系數/電阻測試儀 是一款結構緊湊、高度自動化的臺式分析儀，專為材料塞貝克系數與電阻率的精確同步測量而設計。其基礎測量范圍覆蓋-160°C至600°C，可通過低溫、光照等模塊靈活擴展，并支持真空及多種氣氛環境，是研發各類塊體與薄膜熱電材料的理想工具。
產品型號：LSR-1 (LSR L32)
更新時間：2026-02-06
廠商性質：生產廠家
訪問量：84
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基礎版本LSR-1（LSR L32）塞貝克系數/電阻測試儀 在室溫至 200 °C 范圍內可以與各種選配件結合使用，以擴展其應用范圍。例如，低溫配件，支持通過液氮冷卻實現低至 -160 °C 的全自動測量，可快速冷卻至 80 K（電阻測量）。可選的高溫探頭可將電阻測量擴展至 600 °C ，光照配件則支持在三波長 LED 光源下進行特定光照條件下的熱電測量。LSR-1（LSR L32）系統采用范德堡法（電阻測量）、靜態直流法和斜率塞貝克系數測量技術，適用于金屬和半導體樣品的表征。
塞貝克系數/電阻測試儀 其緊湊的臺式設計支持全自動和軟件控制操作，基于 Windows 的綜合軟件提供直觀的用戶界面，包括測量配置向導、數據可靠性反饋以及集成的數據評估與存儲功能。真空密閉測量室與氣體計量系統相結合，確保滿足廣泛的應用需求，便于高精度熱電材料的研究。
獨特功能
模塊化系統設計：支持通過氣體吹掃系統、光照和低溫配件進行功能擴展。
真空密閉測量室：可在惰性、還原性、氧化性或真空等特定氣氛下進行精確測量。
便捷可更換樣品支架：集成主加熱和輔助加熱功能，確保高效溫控。
同步測量能力：可同時測量塞貝克系數和電阻（電阻率），提升實驗效率。
特殊接觸機制：簡化樣品制備流程，確保測量結果的高重復性和可靠性
V-I 特性測量：以確定傳感器與樣品之間是否接觸良好。
全自動軟件控制：支持預定義溫度和測量曲線的自動化操作，減少人為誤差。
規格參數
| 類型 | LSR-1 (LSR L32) |
| 溫度范圍： | 基礎單元：室溫至 200 °C 低溫配件：-160 °C 至 200 °C |
| 測量原理： | 塞貝克系數測量范圍：0 至 2.5 mV/K，溫度梯度可達 10 K 塞貝克電壓測量范圍：±8 mV |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空 推薦使用低壓氦氣以優化測量條件 |
| 樣品支架： | 集成 PCB 板，配備主加熱和輔助加熱功能，確保均勻溫控 |
| 樣品尺寸（塞貝克系數測量）： | 長度：8 mm 至 25 mm 寬度：2 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品≤ 2 mm |
| 樣品尺寸（電阻測量）： | 長度：18 mm 至 25 mm 寬度：18 mm 至 25 mm 厚度：薄膜樣品 ≤ 2 mm |
| 真空泵： | 選配 |
| 加熱速率： | 0.01 - 100 K/min，滿足快速升溫需求 |
| 溫度精度： | ±1.5 °C 或 0.0040 · | t |，確保高精度溫控 |
| 電阻測量范圍： | 10 nOhm（nOhm = 10-9 Ohm），適用于低電阻材料 |
| 電壓測量范圍： | 0.5 nV/K（nV = 10-9 V），支持高靈敏度測量 |
應用
廣泛應用于各種塊體和薄膜形式的熱電材料塞貝克系數和電阻的測量
上一個：
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